海德汉开口长度测量装置选型步-全球资源网

海德汉开口长度测量装置选型步

来源：东莞市巴菲特自动化设备有限公司2022/6/29 16:24:03298

导读:

海德汉开口长度测量装置选型步，是要了解海德汉开口长度测量装置有什么系列适合自己的，需要选型的客户请浏览以下内容。

开放式线性编码器用于需要高精度显示测量值的机器和系统。典型应用包括：

半导体工业的制造和测量设备
贴片机
超精密机械设备
高精度机床
测量机和比较器，测量显微镜和其他精密测量仪器
直接驱动

测量仪器

系列	描述
LIC	开放式直线光栅尺LIC可在长达28 m的行程距离内实现位置检测，同时具有同样高的运行速度。它们在装配和尺寸上与LIDA 400相对应。

带位置值输出的测量仪器

系列	描述
LIP 200	增量线性编码器LIP 211和LIP 291输出位置信息作为位置值。为此，正弦扫描信号在扫描头中高度内插，并通过集成计数器功能转换成位置值。与所有增量测量仪器一样，使用参考标记进行参考。

增量测量仪器

系列	描述
LIP	为了获得高精度开放式直线光栅尺LIP具有小的测量步骤，同时具有高的精度和可重复性。它们根据干涉扫描原理工作，并以DIADUR相位光栅作为材料测量。
LIF	为了高精度开放式线性编码器LIF具有由SUPRADUR方法产生的材料测量并且根据干涉扫描原理工作。它们具有高精度和可重复性，特别易于安装，并具有限位开关和回原点轨道。特殊版本LIF 481 V可在高达10 -7 bar 的高真空中使用（请参阅单独的产品信息）。
LIDA	适用于高行程速度和长测量长度开放式直线光栅尺LIDA特别适用于高达10 m / s的高速行驶速度。由于不同的安装选项，它们特别灵活。根据不同的版本，钢卷尺，玻璃或玻璃陶瓷可作为METALLUR晶格分布的支撑。他们有一个限位开关。
PP	用于双坐标测量双坐标测量装置PP具有作为材料测量的在DIADUR方法中产生的平面相位光栅结构，其被干涉地扫描。这使得能够在平面中进行位置检测。
LIP / LIF / LIC	适用于高真空和超高真空海德汉公司的标准测量设备可用于粗真空和细真空。在高真空和超高真空中，对测量仪器有特殊要求。使用的设计和材料必须专门为其量身定制。更多信息总结在技术信息用于真空的线性编码器中。以下开口长度测量装置特别适用于高真空和超高真空： •高真空：LIP 481 V和LIF 481 V. •高真空：LIC 4113 V和LIC 4193 V. •超高真空：LIP 481 U.

用于海德汉公开线性编码器的新型信号处理ASIC

海德汉开放式直线光栅尺用于需要高精度定位或定义运动的位置。海德汉公司开发了一种新的信号处理ASIC，即HSP 1.0，以确保在测量设备的整个使用寿命期间提供高质量的扫描信号。该视频展示了他几乎*补偿信号变化并恢复原始信号质量。

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