详情

X荧光光谱仪的优缺点及分类

来源：化工仪器网2022/7/1 18:33:541273
导读:
 X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。

优缺点
优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点
a） 定量分析需要标样。
b）对轻元素的灵敏度要低一些。
c）容易受元素相互干扰和叠加峰影响。

分类
X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以能量特征为原理的称为能量色散型。
 

上一篇：X荧光光谱仪技术原理和用途

下一篇：X射线管有哪些常见故障？

版权与免责声明：凡本网注明“来源：亚洲制造网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-亚洲制造网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：亚洲制造网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。 本网转载并注明自其它来源（非亚洲制造网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

展开全部