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1、仪器校准：

零位调整后，接着对仪器进行量值校准，校准时校准块的几何条件；观测角α=0.2°；入射角β₁=0°β₂=0°。校准步骤如下：

1.1将主机从底板(12)上移开,在底板(12)的试样角度板(13)上放置校准块(15),其被测面前端应与试样角度板(13)的凸起边靠齐；

1.2转动试样角度板（13），使其刻线对准底板（12）上的入射角刻度（14）上的0（即β₂=0°）；

    1.3将主机按2.2条的方法重新放置到底板（12）上；

    1.4调节观测角调节器（1），至0.2°（即α=0.2°）；

1.5按下测量开关（5），约预热1－2分钟后观察数显表（7）的读数，待读数稳定后，即可读出发光强度系数值 R。此值应与校准块所给定的值相等。若不相等，则需调节校准旋钮（6），使显示值等于校准块的给定值。此时仪器已校准完毕，即可进行测量。

随着电子系统越来越朝着多功能、更高性能和更小封装的趋势发展，系统散热问题日渐成为设计环节中必须考虑的因素。系统过热会降低性能

，损坏元件或产生安全隐患。所以使用的时候要注意散热，做好防御措施，防患于未然。