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美国RLS公司全称RLS Merilna tehnika d.o.o.，于1989年12月在斯洛文尼亚的卢布尔雅那成立。RLS是“旋转和直线运动传感器”英文首字母的缩写。

公司成立之初，我们致力于提供运动控制和计量应用领域的解决方案。

RLS光栅尺光栅系列
增量式直线光栅
增量式UHV直线光栅
式直线光栅
式UHV直线光栅
增量式圆弧光栅
式圆弧光栅
增量式圆光栅
增量式UHV圆光栅
式圆光栅
式UHV圆光栅
式ETR圆光栅

抗污能力强
QUANTiC光栅系统拥有多种的设计特性，因此具备的防尘抗污能力。QUANTiC读数头集成有雷尼绍成熟的光学滤波系统，可对多个栅尺周期的读数进行平均，有效滤除脏污等引起的非周期性特征。借助一系列电子信号处理算法，例如自动增益控制 (AGC)、自动偏置控制 (AOC) 和自动平衡控制 (ABC) 等，可进一步增强测量信号的精度。QUANTiC光栅还通过新的检测器设计具备了第三层的信号滤波功能，这有助于更好地消除因栅尺污染产生的非谐波信号频率。所有这些信号调节功能组合在一起，确保了QUANTiC能够实现极低的电子细分误差 (SDE)，并且度减少了因污染导致的信号波动。

RLS光栅尺的工作原理：
QUANTiC光栅采用雷尼绍第三代光学滤波系统，可对多个光栅周期进行平均，有效滤除脏污等引起的非周期性特征。名义方波光栅条纹也被滤去，以在探测器上留下一个完美的正弦波形。这里使用的是一个多条纹结构，它非常细，能够产生4个对称相位信号形式的光电流。这些结合在一起可免去DC器件，并可产生具有高光谱纯度和低偏置值的正弦和余弦输出，同时保持500 kHz以上的带宽。

包括自动增益控制、自动平衡控制和自动偏置控制在内的*集成高级动态信号调节功能组合在一起，确保实现极低的电子细分误差 (SDE)（对于小型圆光栅系统，通常 <±80 nm，对于大型圆光栅系统，通常 <±150 nm，对于直线光栅系统，通常 <±80 nm）。

光学滤波系统的这一改进加上精心设计的优质电子器件，大带宽增量信号使得圆光栅系统可达到8,800 rpm的大转速，直线光栅系统可达到24 m/s的大速度，同时也是同类光栅中位置抖动（噪声）小的。读数头内置细分功能，同时利用其他抗噪电子器件进一步增强高分辨率型的抗噪功能，从而将抖动水平降低至2.73 nm RMS。

RLS光栅尺的抗污能力强
QUANTiC光栅系统拥有多种的设计特性，因此具备的防尘抗污能力。QUANTiC读数头集成有雷尼绍成熟的光学滤波系统，可对多个栅尺周期的读数进行平均，有效滤除脏污等引起的非周期性特征。借助一系列电子信号处理算法，例如自动增益控制 (AGC)、自动偏置控制 (AOC) 和自动平衡控制 (ABC) 等，可进一步增强测量信号的精度。QUANTiC光栅还通过新的检测器设计具备了第三层的信号滤波功能，这有助于更好地消除因栅尺污染产生的非谐波信号频率。所有这些信号调节功能组合在一起，确保了QUANTiC能够实现极低的电子细分误差 (SDE)，并且程度减少了因污染导致的信号波动。

激光尺
背景
自1994年推出款HS10长距离激光尺系统（测量范围长可达60 m）以来，雷尼绍不断为业界提供各种激光反馈解决方案。这些解决方案广泛应用于航空航天、船舶工业和其他专业应用场合的大型机床。2012年，HS10被HS20长距离激光尺取代。HS20具有向后兼容性，它拥有重新设计的光学系统和电子元件，因此更加耐用，性能也更加。

RLE激光尺系列于2001年推出，可提供短距离位置反馈功能（长4 m）。RLE使用拥有的创新“远程”激光源和光纤连接的激光发射头，因此可提高测量精度，节省安装空间，并简化安装和设定过程。该系统具有多种配置，可适合不同的光学结构和应用。

RLE系统已被众多半导体加工机械制造商使用，同时也应用于其他各种短距离测量。在以前无法实现的测量应用中，RLE的特性和功能体现了干涉测量的优势。

RLE和HS20系统均包含一系列附件，例如环境补偿系统、光学和信号接口等，以满足各种测量应用的要求。

激光尺跟光栅尺区别
非接触式测量 安装便捷
其他技术依赖于物理标尺 — 它不可避免地会产生磨损。非接触式激光干涉仪测量方法可消除系统的机械性损伤。

关注点测量 
由于安装方面的限制，大多数直线光栅通常“深藏”在定位平台内部，与工件相隔一定距离，而这可能会引入额外误差源（称为Abbe误差）。激光干涉仪没有物理标尺，可自由安装以直接测量关注点的位移。  激光尺可以使用于真空环境

磁编码器
工业自动化及装配系统
金属加工
石材切割、锯切
纺织品
塑料加工，
木材加工
包装
电子芯片/电路板生产

增量式磁旋转编码器
式磁旋转编码器
增量式直线磁栅