BX53P偏光测量显微镜使用UIS2无限远校正光学系统和*的光学设计组合的奥林巴斯BX53-P偏光显微镜在偏光应用时提供了的性能。可扩展的补偿器使BX53-P有足够多的功能来处理任何相关领域中的观察和测量应用。
BX53P偏光测量显微镜无限远校正的优势UIS2光学系统防止了光学显微镜性能的降低,消除了对显微镜光学放大倍数的影响,即使在光路中插入偏光元件,比如起偏振片、色板或补偿器。在保持高水平系统灵活性的同时,BX53-P也兼容BX3系列系统显微镜的中间附件,以及相机和成像系统。
BX53P偏光测量显微镜ACHN-P和UPLFLN-P物镜中使用的精巧设计和生产技术与显微镜结合。BX53-P偏光显微镜在起偏振片和检偏振片里配备了高EF值滤色片,提供了的图像对比度。为满足研究和应用的多样化要求,型UPLFLN-P系列物镜采用了适用于多种观察方法的设计,包括Nomarski DIC和荧光显微镜观察以及偏光观察。
EF(衰减系数)是平行和交叉偏光滤色片之间的亮度比。EF值越高,消光效果就越好。
BX53-P显微镜可以使用6种不同的补偿器,能够测量多种水平延迟,范围从0到20λ。为使测量更容易,还提供了直接读数法。使用Senarmont或Brace-Koehler补偿器可以获得更高的图像对比度,以改变整个视野里的延迟水平。
与绿色滤色片IF 546或IF 550。
使用U-CPA锥光镜观察附件后,正交偏光和锥光镜观察之间的切换简单而快捷。锥光镜成像的聚焦轻松而准确。勃氏透镜视场光阑的使用使其可以持续获取锐利而清晰的锥光图像。
旋转载物台安装的旋转对中装置能够顺畅地旋转标本。此外,为了实施测量,每隔45度就有一个咔哒停止装置。如果增加了双机械载物台,还可以进一步完成X-Y的微小移动。
上一篇:精密尺寸影像测量仪--品智创思
下一篇:滚动接触角测定仪介绍
版权与免责声明:凡本网注明“来源:全球资源网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-全球资源网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:全球资源网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。 本网转载并注明自其它来源(非全球资源网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
展开全部